Measurement and Modeling of Picosecond Step Response of GaAs MESFETs

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Measurement and Modeling of Picosecond Step Response of GaAs MESFETs
المؤلفون: Law, Christine S., Vendelin, George D., van der Weide, Daniel W.
المصدر: 47th ARFTG Conference Digest ARFTG Conference Digest-Spring, 47th. 29:160-163 Jun, 1996
Relation: 47th ARFTG Conference Digest
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
ردمك:9781665450287
0780356861
9780780356863
DOI:10.1109/ARFTG.1996.327177