دورية أكاديمية

In-Situ Measurement of Supply-Noise Maps With Millivolt Accuracy and Nanosecond-Order Time Resolution

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: In-Situ Measurement of Supply-Noise Maps With Millivolt Accuracy and Nanosecond-Order Time Resolution
المؤلفون: Kanno, Y., Kondoh, Y., Irita, T., Hirose, K., Mori, R., Yasu, Y., Komatsu, S., Mizuno, H.
المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 42(4):784-789 Apr, 2007
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189200
1558173X
DOI:10.1109/JSSC.2007.891662