دورية أكاديمية
VHDL-AMS Modeling of Total Ionizing Dose Radiation Effects on CMOS Mixed Signal Circuits
العنوان: | VHDL-AMS Modeling of Total Ionizing Dose Radiation Effects on CMOS Mixed Signal Circuits |
---|---|
المؤلفون: | Mikkola, E. O., Vermeire, B., Parks, H. G., Graves, R. |
المصدر: | IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 54(4):929-934 Aug, 2007 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
تدمد: | 00189499 15581578 |
---|---|
DOI: | 10.1109/TNS.2007.903185 |