دورية أكاديمية

VHDL-AMS Modeling of Total Ionizing Dose Radiation Effects on CMOS Mixed Signal Circuits

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: VHDL-AMS Modeling of Total Ionizing Dose Radiation Effects on CMOS Mixed Signal Circuits
المؤلفون: Mikkola, E. O., Vermeire, B., Parks, H. G., Graves, R.
المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 54(4):929-934 Aug, 2007
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189499
15581578
DOI:10.1109/TNS.2007.903185