دورية أكاديمية
Degradation Uniformity of RF-Power GaAs PHEMTs Under Electrical Stress
| العنوان: | Degradation Uniformity of RF-Power GaAs PHEMTs Under Electrical Stress |
|---|---|
| المؤلفون: | Villanueva, A. A., del Alamo, J. A., Hisaka, T., Hayashi, K., Somerville, M. |
| المصدر: | IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 8(2):283-288 Jun, 2008 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder كن أول من يترك تعليقا!