Spacing impact on MOSFET mismatch

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Spacing impact on MOSFET mismatch
المؤلفون: Cathignol, A., Mennillo, S., Bordez, S., Vendrame, L., Ghibaudo, G.
المصدر: 2008 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures, 2008. ICMTS 2008. IEEE International Conference on. :90-95 Mar, 2008
Relation: 2008 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS)
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
ردمك:9781424418008
9781424418015
تدمد:10719032
21581029
DOI:10.1109/ICMTS.2008.4509320