Higher hole mobility induced by twisted Direct Silicon Bonding (DSB)

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Higher hole mobility induced by twisted Direct Silicon Bonding (DSB)
المؤلفون: Hamaguchi, M., Yin, H., Saenger, K. L., Sung, C. Y., Hasumi, R., Iijima, R., Ohuchi, K., Takasu, Y., Ott, J. A., Kang, H., Biscardi, M., Li, J., Domenicucci, A. G., Zhu, Z., Ronsheim, P., Zhang, R., Rovedo, N., Utomo, H., Fogel, K., de Souza, J.P., Sadana, D.K., Takayanagi, M., Park, D., Shahidi, G., Ishimaru, K.
المصدر: 2008 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2008 Symposium on. :178-179 Jun, 2008
Relation: 2008 Symposium on VLSI Technology
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
ردمك:9781424418022
9781424418039
تدمد:07431562
21589682
DOI:10.1109/VLSIT.2008.4588609