دورية أكاديمية
Device-Orientation Effects on Multiple-Bit Upset in 65 nm SRAMs
| العنوان: | Device-Orientation Effects on Multiple-Bit Upset in 65 nm SRAMs |
|---|---|
| المؤلفون: | Tipton, A. D., Pellish, J. A., Hutson, J. M., Baumann, R., Deng, X., Marshall, A., Xapsos, M. A., Kim, H. S., Friendlich, M. R., Campola, M. J., Seidleck, C. M., LaBel, K. A., Mendenhall, M. H., Reed, R. A., Schrimpf, R. D., Weller, R. A., Black, J. D. |
| المصدر: | IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 55(6):2880-2885 Dec, 2008 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder | تدمد: | 00189499 15581578 |
|---|---|
| DOI: | 10.1109/TNS.2008.2006503 |