دورية أكاديمية
Evidence for Lateral Angle Effect on Single-Event Latchup in 65 nm SRAMs
| العنوان: | Evidence for Lateral Angle Effect on Single-Event Latchup in 65 nm SRAMs |
|---|---|
| المؤلفون: | Hutson, J. M., Pellish, J. A., Tipton, A. D., Boselli, G., Xapsos, M. A., Kim, H., Friendlich, M., Campola, M., Seidleck, S., LaBel, K., Marshall, A., Deng, X., Baumann, R., Reed, R. A., Schrimpf, R. D., Weller, R. A., Massengill, L. W. |
| المصدر: | IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 56(1):208-213 Feb, 2009 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder | تدمد: | 00189499 15581578 |
|---|---|
| DOI: | 10.1109/TNS.2008.2010395 |