دورية أكاديمية

Standby Leakage Power Reduction Technique for Nanoscale CMOS VLSI Systems

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Standby Leakage Power Reduction Technique for Nanoscale CMOS VLSI Systems
المؤلفون: Jeon, H., Kim, Y.-B., Choi, M.
المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 59(5):1127-1133 May, 2010
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189456
15579662
DOI:10.1109/TIM.2010.2044710