Radiation Test of 8 Bit Microcontrollers ATmega128 & AT90CAN128

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Radiation Test of 8 Bit Microcontrollers ATmega128 & AT90CAN128
المؤلفون: Schuttauf, A., Rakers, S., Daniel, C.
المصدر: 2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop Radiation Effects Data Workshop (REDW), 2010 IEEE. :4-4 Jul, 2010
Relation: 2010 Radiation Effects Data Workshop
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
ردمك:9781424484058
9781424484034
9781424484041
تدمد:21540519
21540535
DOI:10.1109/REDW.2010.5619504