دورية أكاديمية

Electrical Characterization of Thin-Film Structures With Redeposited Sidewalls

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Electrical Characterization of Thin-Film Structures With Redeposited Sidewalls
المؤلفون: Roy, D., in 't Zandt, M. A. A., Wolters, R. A. M.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 58(4):924-930 Apr, 2011
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2010.2103318