دورية أكاديمية
Electrical Characterization of Thin-Film Structures With Redeposited Sidewalls
العنوان: | Electrical Characterization of Thin-Film Structures With Redeposited Sidewalls |
---|---|
المؤلفون: | Roy, D., in 't Zandt, M. A. A., Wolters, R. A. M. |
المصدر: | IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 58(4):924-930 Apr, 2011 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
تدمد: | 00189383 15579646 |
---|---|
DOI: | 10.1109/TED.2010.2103318 |