دورية أكاديمية
Embedded DRAM in 45-nm Technology and Beyond
| العنوان: | Embedded DRAM in 45-nm Technology and Beyond |
|---|---|
| المؤلفون: | Anand, Darren, Gorman, Kevin, Jacunski, Mark, Paparelli, Adrian |
| المصدر: | IEEE Design & Test of Computers IEEE Des. Test. Comput. Design & Test of Computers, IEEE. 28(1):14-21 Jan, 2011 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder | تدمد: | 07407475 15581918 |
|---|---|
| DOI: | 10.1109/MDT.2011.2 |