دورية أكاديمية

Modeling Inductive Behavior of MOSFET Scattering Parameter $S _{22}$ in the Breakdown Regime

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Modeling Inductive Behavior of MOSFET Scattering Parameter $S _{22}$ in the Breakdown Regime
المؤلفون: Lee, C.-I., Lin, W.-C., Lin, Y.-T.
المصدر: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques IEEE Trans. Microwave Theory Techn. Microwave Theory and Techniques, IEEE Transactions on. 60(3):502-508 Mar, 2012
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189480
15579670
DOI:10.1109/TMTT.2011.2181188