دورية أكاديمية

Novel Test Structures for Dedicated Temperature Budget Determination

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Novel Test Structures for Dedicated Temperature Budget Determination
المؤلفون: Faber, E. J., Wolters, R. A. M., Schmitz, J.
المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 25(3):339-345 Aug, 2012
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:08946507
15582345
DOI:10.1109/TSM.2012.2202793