دورية أكاديمية
SET Characterization and Mitigation in 65-nm CMOS Test Structures
| العنوان: | SET Characterization and Mitigation in 65-nm CMOS Test Structures |
|---|---|
| المؤلفون: | Rezgui, S., Won, R., Tien, J. |
| المصدر: | IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 59(4):851-859 Aug, 2012 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder | تدمد: | 00189499 15581578 |
|---|---|
| DOI: | 10.1109/TNS.2012.2196768 |