دورية أكاديمية
Rediscovery of Single-Event Gate Rupture Mechanism in Power MOSFETs
| العنوان: | Rediscovery of Single-Event Gate Rupture Mechanism in Power MOSFETs |
|---|---|
| المؤلفون: | Kuboyama, S., Ikeda, N., Mizuta, E., Abe, H., Hirao, T., Tamura, T. |
| المصدر: | IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 59(4):749-754 Aug, 2012 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder | تدمد: | 00189499 15581578 |
|---|---|
| DOI: | 10.1109/TNS.2012.2201501 |