دورية أكاديمية
Design and Analysis of Robust Tunneling FET SRAM
العنوان: | Design and Analysis of Robust Tunneling FET SRAM |
---|---|
المؤلفون: | Chen, Y.-N., Fan, M.-L., Hu, V.-H., Su, P., Chuang, C.-T. |
المصدر: | IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 60(3):1092-1098 Mar, 2013 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
تدمد: | 00189383 15579646 |
---|---|
DOI: | 10.1109/TED.2013.2239297 |