دورية أكاديمية

Extraction and Analysis of Interface States in 50-nm nand Flash Devices

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Extraction and Analysis of Interface States in 50-nm nand Flash Devices
المؤلفون: Yan, C.-R., Chen, J. F., Lee, Y.-J., Liao, Y.-J., Lin, C.-Y., Chen, C.-Y., Lin, Y.-C., Chen, H.-H.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 60(3):992-997 Mar, 2013
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2013.2240458