دورية أكاديمية

Elimination of Artifacts in External Quantum Efficiency Measurements of Multijunction Solar Cells Using a Pulsed Voltage Bias

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Elimination of Artifacts in External Quantum Efficiency Measurements of Multijunction Solar Cells Using a Pulsed Voltage Bias
المؤلفون: Li, J.-J., Allen, C. R., Lim, S. H., Zhang, Y.-H.
المصدر: IEEE Journal of Photovoltaics IEEE J. Photovoltaics Photovoltaics, IEEE Journal of. 3(2):769-775 Apr, 2013
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:21563381
21563403
DOI:10.1109/JPHOTOV.2013.2242959