دورية أكاديمية

Statistical Lifetime Inference With Skew-Wiener Linear Degradation Models

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Statistical Lifetime Inference With Skew-Wiener Linear Degradation Models
المؤلفون: Peng, C.-Y., Tseng, S.-T.
المصدر: IEEE Transactions on Reliability IEEE Trans. Rel. Reliability, IEEE Transactions on. 62(2):338-350 Jun, 2013
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189529
15581721
DOI:10.1109/TR.2013.2257055