دورية أكاديمية
Comparative Leakage Analysis of GeOI FinFET and Ge Bulk FinFET
العنوان: | Comparative Leakage Analysis of GeOI FinFET and Ge Bulk FinFET |
---|---|
المؤلفون: | Hu, V. P.-H., Fan, M.-L., Su, P., Chuang, C.-T. |
المصدر: | IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 60(10):3596-3600 Oct, 2013 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
تدمد: | 00189383 15579646 |
---|---|
DOI: | 10.1109/TED.2013.2278032 |