دورية أكاديمية

Comparative Leakage Analysis of GeOI FinFET and Ge Bulk FinFET

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Comparative Leakage Analysis of GeOI FinFET and Ge Bulk FinFET
المؤلفون: Hu, V. P.-H., Fan, M.-L., Su, P., Chuang, C.-T.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 60(10):3596-3600 Oct, 2013
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2013.2278032