دورية أكاديمية

Substrate-Induced Noise Model and Parameter Extraction for High-Frequency Noise Modeling of Sub-Micron MOSFETs

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Substrate-Induced Noise Model and Parameter Extraction for High-Frequency Noise Modeling of Sub-Micron MOSFETs
المؤلفون: Ong, S. N., Yeo, K. S., Chew, K. W. J., Chan, L. H. K.
المصدر: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques IEEE Trans. Microwave Theory Techn. Microwave Theory and Techniques, IEEE Transactions on. 62(9):1973-1985 Sep, 2014
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189480
15579670
DOI:10.1109/TMTT.2014.2340375