دورية أكاديمية

Extraction of the Interface State Density of Top-Gate Graphene Field-Effect Transistors

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Extraction of the Interface State Density of Top-Gate Graphene Field-Effect Transistors
المؤلفون: Ukjin Jung, Yun Ji Kim, Kim, Y., Lee, Y.G., Lee, B.H.
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 36(4):408-410 Apr, 2015
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:07413106
15580563
DOI:10.1109/LED.2015.2402287