دورية أكاديمية

Application Relevant Evaluation of Trapping Effects in AlGaN/GaN HEMTs With Fe-Doped Buffer

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Application Relevant Evaluation of Trapping Effects in AlGaN/GaN HEMTs With Fe-Doped Buffer
المؤلفون: Axelsson, O., Gustafsson, S., Hjelmgren, H., Rorsman, N., Blanck, H., Splettstoesser, J., Thorpe, J., Roedle, T., Thorsell, M.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 63(1):326-332 Jan, 2016
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2015.2499313