دورية أكاديمية

Low-frequency noise spectroscopy of polycrystalline silicon thin-film transistors

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Low-frequency noise spectroscopy of polycrystalline silicon thin-film transistors
المؤلفون: Angelis, C.T., Dimitriadis, C.A., Brini, J., Kamarinos, G., Gueorguiev, V.K., Ivanov, T.E.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 46(5):968-974 May, 1999
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/16.760405