دورية أكاديمية

Response Variability in Commercial MOSFET SEE Qualification

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Response Variability in Commercial MOSFET SEE Qualification
المؤلفون: George, J.S., Clymer, D.A., Turflinger, T.L., Mason, L.W., Stone, S., Koga, R., Beach, E., Huntington, K., Lauenstein, J., Titus, J., Sivertz, M.
المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 64(1):317-324 Jan, 2017
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189499
15581578
DOI:10.1109/TNS.2016.2633358