دورية أكاديمية

Impact of CSI Uncertainty on MCIK-OFDM: Tight Closed-Form Symbol Error Probability Analysis

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Impact of CSI Uncertainty on MCIK-OFDM: Tight Closed-Form Symbol Error Probability Analysis
المؤلفون: Van Luong, T., Ko, Y.
المصدر: IEEE Transactions on Vehicular Technology IEEE Trans. Veh. Technol. Vehicular Technology, IEEE Transactions on. 67(2):1272-1279 Feb, 2018
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189545
19399359
DOI:10.1109/TVT.2017.2753402