دورية أكاديمية

A 14-nm FinFET Logic CMOS Process Compatible RRAM Flash With Excellent Immunity to Sneak Path

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: A 14-nm FinFET Logic CMOS Process Compatible RRAM Flash With Excellent Immunity to Sneak Path
المؤلفون: Hsieh, E.R., Kuo, Y.C., Cheng, C., Kuo, J.L., Jiang, M., Lin, J., Chen, H., Chung, S.S., Liu, C., Chen, T.P., Huang, S.A., Chen, T., Cheng, O.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 64(12):4910-4918 Dec, 2017
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2017.2763960