دورية أكاديمية

An On-Chip Detector of Transient Stress Events

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: An On-Chip Detector of Transient Stress Events
المؤلفون: Patnaik, A., Suchak, M., Seva, R., Pamidimukkala, K., Edgington, G., Moseley, R., Feddeler, J., Stockinger, M., Pommerenke, D., Beetner, D.G.
المصدر: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility IEEE Trans. Electromagn. Compat. Electromagnetic Compatibility, IEEE Transactions on. 60(4):1053-1060 Aug, 2018
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189375
1558187X
DOI:10.1109/TEMC.2017.2785039