دورية أكاديمية
An Optimized Test During Burn-In for Automotive SoC
| العنوان: | An Optimized Test During Burn-In for Automotive SoC |
|---|---|
| المؤلفون: | Appello, D., Bugeja, C., Pollaccia, G., Bernardi, P., Cantoro, R., Restifo, M., Sanchez, E., Venini, F. |
| المصدر: | IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 35(3):46-53 Jun, 2018 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder | تدمد: | 21682356 21682364 |
|---|---|
| DOI: | 10.1109/MDAT.2018.2799807 |