دورية أكاديمية
An Optimized Test During Burn-In for Automotive SoC
العنوان: | An Optimized Test During Burn-In for Automotive SoC |
---|---|
المؤلفون: | Appello, D., Bugeja, C., Pollaccia, G., Bernardi, P., Cantoro, R., Restifo, M., Sanchez, E., Venini, F. |
المصدر: | IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 35(3):46-53 Jun, 2018 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
تدمد: | 21682356 21682364 |
---|---|
DOI: | 10.1109/MDAT.2018.2799807 |