دورية أكاديمية

Total Ionizing Dose Hardened and Mitigation Strategies in Deep Submicrometer CMOS and Beyond

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Total Ionizing Dose Hardened and Mitigation Strategies in Deep Submicrometer CMOS and Beyond
المؤلفون: Chatzikyriakou, E., Morgan, K., de Groot, C.H.K.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 65(3):808-819 Mar, 2018
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2018.2792305