دورية أكاديمية
Observation of Hot Electron and Impact Ionization in N-Polar GaN MIS-HEMTs
| العنوان: | Observation of Hot Electron and Impact Ionization in N-Polar GaN MIS-HEMTs |
|---|---|
| المؤلفون: | Bisi, D., De Santi, C., Meneghini, M., Wienecke, S., Guidry, M., Li, H., Ahmadi, E., Keller, S., Mishra, U.K., Meneghesso, G., Zanoni, E. |
| المصدر: | IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 39(7):1007-1010 Jul, 2018 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder | تدمد: | 07413106 15580563 |
|---|---|
| DOI: | 10.1109/LED.2018.2835517 |