دورية أكاديمية

Metric Driven Classification: A Non-Parametric Approach Based on the Henze–Penrose Test Statistic

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Metric Driven Classification: A Non-Parametric Approach Based on the Henze–Penrose Test Statistic
المؤلفون: Ghanem, S., Krim, H., Clouse, H.S., Sakla, W.
المصدر: IEEE Transactions on Image Processing IEEE Trans. on Image Process. Image Processing, IEEE Transactions on. 27(12):5947-5956 Dec, 2018
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:10577149
19410042
DOI:10.1109/TIP.2018.2862352