MOS Dosimeter Based on Ge Nanocrystals in Hfo2

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: MOS Dosimeter Based on Ge Nanocrystals in Hfo2
المؤلفون: Palade, C., Slav, A., Lepadatu, A.M., Stavarache, I., Dascalescu, I., Cojocaru, O., Stoica, T., Ciurea, M.L., Lazanu, S.
المصدر: 2018 International Semiconductor Conference (CAS) International Semiconductor Conference (CAS), 2018. :87-90 Oct, 2018
Relation: 2018 International Semiconductor Conference (CAS)
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
ردمك:9781538644829
9781538644812
DOI:10.1109/SMICND.2018.8539769