دورية أكاديمية
Modeling Interface Charge Traps in Junctionless FETs, Including Temperature Effects
العنوان: | Modeling Interface Charge Traps in Junctionless FETs, Including Temperature Effects |
---|---|
المؤلفون: | Rassekh, A., Jazaeri, F., Fathipour, M., Sallese, J. |
المصدر: | IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 66(11):4653-4659 Nov, 2019 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
كن أول من يترك تعليقا!