دورية أكاديمية

Density-gradient analysis of MOS tunneling

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Density-gradient analysis of MOS tunneling
المؤلفون: Ancona, M.G., Yu, Z., Dutton, R.W., Vande Voorde, P.J., Cao, M., Vook, D.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 47(12):2310-2319 Dec, 2000
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/16.887013