دورية أكاديمية

Surface Leakage Behaviors of $2.6~\mu$ m In0.83Ga0.17As Photodetectors as a Function of Mesa Etching Depth

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Surface Leakage Behaviors of $2.6~\mu$ m In0.83Ga0.17As Photodetectors as a Function of Mesa Etching Depth
المؤلفون: Liu, Y., Ma, Y., Li, X., Gu, Y., Zhang, Y., Gong, H., Fang, J.
المصدر: IEEE Journal of Quantum Electronics IEEE J. Quantum Electron. Quantum Electronics, IEEE Journal of. 56(2):1-6 Apr, 2020
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189197
15581713
DOI:10.1109/JQE.2020.2970745