دورية أكاديمية

High reliability polyoxide fabricated by using TEOS oxide deposited on disilane polysilicon film

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: High reliability polyoxide fabricated by using TEOS oxide deposited on disilane polysilicon film
المؤلفون: Jam Wem Lee, Chung-Len Lee, Tan Fu Lei, Chao Sung Lai
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 48(4):743-749 Apr, 2001
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/16.915716