دورية أكاديمية

Ionization Damage Effects of Pulse Discharge Circuit Switched by Anode-Short MOS-Controlled Thyristor

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Ionization Damage Effects of Pulse Discharge Circuit Switched by Anode-Short MOS-Controlled Thyristor
المؤلفون: Li, L., Li, Z.-H., Zhang, J.-P., Wu, Y.-Z., Chen, X.-C., Min-Ren, Zhang, B., Jian, Y.
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 8:1096-1104 2020
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:21686734
DOI:10.1109/JEDS.2020.3030880