دورية أكاديمية
Ion-Induced Mesoplasma Formation and Thermal Destruction in 4H-SiC Power MOSFET Devices
العنوان: | Ion-Induced Mesoplasma Formation and Thermal Destruction in 4H-SiC Power MOSFET Devices |
---|---|
المؤلفون: | McPherson, J.A., Hitchcock, C.W., Paul Chow, T., Ji, W., Woodworth, A.A. |
المصدر: | IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 68(5):651-658 May, 2021 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
تدمد: | 00189499 15581578 |
---|---|
DOI: | 10.1109/TNS.2021.3068196 |