دورية أكاديمية
Ion-Induced Mesoplasma Formation and Thermal Destruction in 4H-SiC Power MOSFET Devices
| العنوان: | Ion-Induced Mesoplasma Formation and Thermal Destruction in 4H-SiC Power MOSFET Devices |
|---|---|
| المؤلفون: | McPherson, J.A., Hitchcock, C.W., Paul Chow, T., Ji, W., Woodworth, A.A. |
| المصدر: | IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 68(5):651-658 May, 2021 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder كن أول من يترك تعليقا!