دورية أكاديمية
A Genetic Algorithm-Based Metaheuristic Approach for Test Cost Optimization of 3D SIC
العنوان: | A Genetic Algorithm-Based Metaheuristic Approach for Test Cost Optimization of 3D SIC |
---|---|
المؤلفون: | Kaibartta, T., Biswas, G.P., Pal, A.K., Das, D.K. |
المصدر: | IEEE Access Access, IEEE. 9:160987-161002 2021 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
تدمد: | 21693536 |
---|---|
DOI: | 10.1109/ACCESS.2021.3131336 |