دورية أكاديمية

A Genetic Algorithm-Based Metaheuristic Approach for Test Cost Optimization of 3D SIC

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: A Genetic Algorithm-Based Metaheuristic Approach for Test Cost Optimization of 3D SIC
المؤلفون: Kaibartta, T., Biswas, G.P., Pal, A.K., Das, D.K.
المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 9:160987-161002 2021
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library