Fabrication and Characterization of ZrO2/AlGaN/GaN MIS-HEMTs with regrown AlGaN Layer

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Fabrication and Characterization of ZrO2/AlGaN/GaN MIS-HEMTs with regrown AlGaN Layer
المؤلفون: Maeda, S., Nagase, I., Baratov, A., Urano, S., Asubar, J. T., Yamamoto, A., Kuzuhara, M.
المصدر: 2021 IEEE International Meeting for Future Electron Devices, Kansai (IMFEDK) Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK), 2021 IEEE International Meeting for. :1-2 Nov, 2021
Relation: 2021 IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK)
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
ردمك:9781665442008
DOI:10.1109/IMFEDK53601.2021.9637576