دورية أكاديمية
Analysis of Heavy-Ion-Induced Leakage Current in SiC Power Devices
العنوان: | Analysis of Heavy-Ion-Induced Leakage Current in SiC Power Devices |
---|---|
المؤلفون: | Johnson, R.A., Witulski, A.F., Ball, D.R., Galloway, K.F., Sternberg, A.L., Reed, R.A., Schrimpf, R.D., Alles, M.L., Lauenstein, J., Hutson, J.M. |
المصدر: | IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 69(3):248-253 Mar, 2022 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
كن أول من يترك تعليقا!