دورية أكاديمية

Breakdown Mechanism of AlGaN/GaN HEMT on 200-mm Silicon Substrate With Silicon Implant-Assisted Contacts

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Breakdown Mechanism of AlGaN/GaN HEMT on 200-mm Silicon Substrate With Silicon Implant-Assisted Contacts
المؤلفون: Chanuel, A., Gobil, Y., Hsu, C.L., Charles, M., Coig, M., Biscarrat, J., Aussenac, F., Defrance, N., Gaquiere, C., Gaillard, F., Morvan, E.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(10):5530-5535 Oct, 2022
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2022.3201837