دورية أكاديمية

Impact of Interface Traps in Floating-Gate Memory Based on Monolayer MoS

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Impact of Interface Traps in Floating-Gate Memory Based on Monolayer MoS
المؤلفون: Giusi, G., Marega, G.M., Kis, A., Iannaccone, G.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(11):6121-6126 Nov, 2022
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2022.3208804