دورية أكاديمية

Learning Multiresolution Features for Unsupervised Anomaly Localization on Industrial Textured Surfaces

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Learning Multiresolution Features for Unsupervised Anomaly Localization on Industrial Textured Surfaces
المؤلفون: Tao, X., Yan, S., Gong, X., Adak, C.
المصدر: IEEE Transactions on Artificial Intelligence IEEE Trans. Artif. Intell. Artificial Intelligence, IEEE Transactions on. 5(1):127-139 Jan, 2024
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:26914581
DOI:10.1109/TAI.2022.3227142