دورية أكاديمية

A study of damage-free in-situ etching of GaN in metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) by tertiarybutylchloride (TBCl)

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: A study of damage-free in-situ etching of GaN in metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) by tertiarybutylchloride (TBCl)
المؤلفون: Li, Bingjun, Wang, Sizhen, Nami, Mohsen, Han, Jung
المصدر: In Journal of Crystal Growth 15 March 2020 534
قاعدة البيانات: ScienceDirect
الوصف
تدمد:00220248
DOI:10.1016/j.jcrysgro.2020.125492