دورية أكاديمية

Real-time study of phase transformations in Cu–In chalcogenide thin films using in situ Raman spectroscopy and XRD

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Real-time study of phase transformations in Cu–In chalcogenide thin films using in situ Raman spectroscopy and XRD
المؤلفون: Rudigier, E., Djordjevic, J., von Klopmann, C., Barcones, B., Pérez-Rodríguez, A., Scheer, R.
المصدر: In Journal of Physics and Chemistry of Solids 2005 66(11):1954-1960
قاعدة البيانات: ScienceDirect
الوصف
تدمد:00223697
DOI:10.1016/j.jpcs.2005.09.096